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微米级超薄石墨片的导热性能测试—In-plane测量模式

更新时间:2011-05-16      点击次数:2155

随着电子产品的升级换代的加速和迷你、高集成以及高性能电子设备的日益增长的散热管理需求,石墨材料散热技术得到广泛的深入研究,可应用在笔记本电脑、平板显示器、数码摄像机、及针对个人的助理设备、LED灯等领域。本次测试采用导热仪LFA447中的In-plane模式进行样品薄片的水平方向导热性能测试。

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