纳米薄膜导热测量的选择:热反射法
课程描述
小型化和高性能一直是电子器件发展的两大主题。苹果最新的M1芯片,大小虽然只有120 mm2,但里面足有160亿个晶体管,而在如此高的晶体管密度的芯片中,如何控制芯片发热就变成了一个巨大的挑战。在我们想要很好的控制芯片散热之前,必须得先了解芯片本身的导热性能。但芯片实际是一个多层结构,层厚只有纳米级,这种纳米级厚度薄膜的导热性能我们又该如何表征呢?
本次讲座就向大家介绍针对纳米薄膜导热测量的最佳方法——热反射法,并告诉大家,我们该如何利用这种方法来测量纳米薄膜的导热系数,热阻以及多层材料间的界面热阻等参数。
课程安排 | |
时间 | |
授课人 | 欧洲杯压球平台仪器应用专家 周延 |
平台 | Microsoft teams(通过邮件发送参会链接) |
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